溫升測(cè)試的干擾

電源行業(yè)溫升測(cè)試的難點(diǎn)在于：
熱電偶產(chǎn)生的熱電勢(shì)信號(hào)非常微小。
隨著變頻器的普及，測(cè)試環(huán)境變得越來越惡劣。

溫度記錄儀抑制干擾的對(duì)策：
使用高共摸抑制比、高串模抑制比、高共模耐壓測(cè)試設(shè)備。
測(cè)試電路與內(nèi)部電路的絕緣方式（光電耦合絕緣*佳）。
采用積分型A/D,在對(duì)模擬量進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換時(shí)，先對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行積分運(yùn)算。
針對(duì)不同工頻干擾頻率，設(shè)定合適測(cè)量周期。
同時(shí)使用 一階低通濾波與A/D積分的方式。
區(qū)別于常規(guī)掃描型模塊，獨(dú)立A/D測(cè)試模塊能有效去除通道切換造成的影響。
熱電偶前端與被測(cè)點(diǎn)絕緣能有效抑制共摸干擾。
熱電偶線采用雙絞屏蔽線、采用電磁屏蔽措施。
使用溫度變送器（4mA-20mA輸出）、外置濾波電容等。
運(yùn)用上述方法尤其要注意一點(diǎn)：測(cè)試電路與記錄儀內(nèi)部電路之間，通過光電耦合絕緣，可以大幅度減低從傳感器來的共模干擾，即使不慎在傳感器上加了高壓，也不至破壞記錄儀, 或?qū)Σ僮魅藛T造成傷害！